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Microsystems Metrology and Inspection. V.3825
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资源类型
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馆藏地址
西文书库(1)
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中文图书(1)
主题
(1)
出版社
SPIE(1)
出版时间
1999.6(1)
MICROSYSTEMS METROLOGY AND INSPECTION. V.3825
—
SPIE
索书号：
79.841/S678
标准编码：
0-8194-3311-X
出版信息：
Munich SPIE 1999.6
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