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出版社
- SPIE(1)
出版时间
- 1985.8(1)
-
MICRON AND SUBMICRON INTEGRATED CIRCUIT METROLOGY V.565
— BY SPIE
索书号：VOL.565
标准编码： 0-89252-600-9
出版信息：San Diego SPIE 1985.8
主题词： METROLOGY OPTICAL METROLOGY INTEGRATED CIRCUIT (IC) SCANNING ELECTRON MICROSCOPES
中文图书
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