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出版社
- SPIE(1)
出版时间
- 1988.6(1)
-
INDUSTRIAL LASER INTERFEROMETRY II V.955
— BY SPIE
索书号：VOL.955
标准编码： 0-89252-990-3
出版信息：Dearborn SPIE 1988.6
主题词： METROLOGY HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY SURFACE LAGER EXAMINATION OPTICAL TEST
中文图书
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