书目详细信息
： Industrial laser interferometry II V.955
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-89252-990-3:￥209.71 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Industrial laser interferometry II V.955/.by SPIE |
| 出版发行项： | Dearborn:,SPIE:,1988.6 |
| 载体形态项： | 163页:;+16开 |
| 一般附注： | International symposium on optical engineering and industrial sensing for advanced manufacturing technologies |
| 题名主题： | METROLOGY |
| 题名主题： | HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY |
| 题名主题： | SURFACE LAGER EXAMINATION |
| 题名主题： | OPTICAL TEST |
| 记录来源： | CN 20061201 |