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主题

HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY SPECKLE NON-DESTRUCTIVE TESTING(1)

出版社

SPIE(1)

出版时间

1996(1)

SELECTED PAPERS ON ELECTRONIC SPECKLE PATTERN INTERFEROMETRY PRINCIPLES AND PRACTICE V. MS 132

— BY SPIE

索书号：79.8411/S 678

标准编码： 0-8194-2376-9

出版信息：Bellingham SPIE 1996

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