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中文图书(1)

主题

MEMS RELIABILITY(1)

出版社

SPIE(1)

出版时间

1999.9(1)

MEMS RELIABILITY FOR CRITICAL AND SPACE APPLICATIONS. V.3880

— SPIE

索书号：78.1/S678

标准编码： 0-8194-3477-9

出版信息：Santa Clara SPIE 1999.9

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