— 高光渤,李学信编著
索书号：73.7314/0949
标准编码： 7-
出版信息：北京 科学出版社 1987.11
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— 王炫华译
索书号：73.7314/1292
出版信息：134页 可靠性与环境试验编辑部 1979
— <<半导体器件可靠性>>编写组编
索书号：73.7314/9126
出版信息：北京 国防工业出版社 1978.3
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