书目详细信息
： Point defects in semiconductors II:Experimental aspects
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 3-540-11515-3:RMB73.80 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Point defects in semiconductors II/.Bourgoin J.,Lannoo M.著 |
| 版本项： | 1 |
| 出版发行项： | Berlin:,Springer-Verlag:,1983 |
| 载体形态项： | 295p:;+22cm |
| 丛编项： | Springer series in solid-state science 35 |
| 个人名称等同： | Bourgoin J. 著 |
| 个人名称等同： | Lannoo M. 著 |
| 记录来源： | CN 20081024 |