书目详细信息
： Reliability,packaging,testing,and characterizations of MEMS/MOEMS and nanodevices X Vol.7
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-0-8194-8465-9:RMB390 |
|---|---|
| 作品语种： | eng |
| 题名责任者项： | Reliability,packaging,testing,and characterizations of MEMS/MOEMS and nanodevices X Vol.7927/.by SPIE |
| 出版发行项： | Bellingham:,SPIE:,2011.1 |
| 载体形态项： | multi-stage:;+ill.:;+29cm |
| 记录来源： | CN 20110615 |