书目详细信息
： Instrumentation,Metrology,and Standards for Nanomanufacturing,Optics,and Semiconductors VII Vol.8819
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-0-8194-9669-0:RMB300 |
|---|---|
| 作品语种： | eng |
| 题名责任者项： | Instrumentation,Metrology,and Standards for Nanomanufacturing,Optics,and Semiconductors VII Vol.8819/.by SPIE |
| 出版发行项： | Bellingham:,SPIE:,2013.8 |
| 载体形态项： | multi-stage:;+ill.:;+29cm |
| 记录来源： | CN 20130603 |