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书目详细信息： 硅中缺陷与器件质量 (半导体材料学进展译文集)

ISBN/价格：	7-:￥1.20
题名责任者项：	硅中缺陷与器件质量 (半导体材料学进展译文集)/.王儒全,周佩德等译
版本项：	1
出版发行项：	北京:,轻工业出版社:,1980.8
载体形态项：	180页:;+16开
个人名称等同：	王儒全,周佩德等译
记录来源：	/ /

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