书目详细信息
： Measurement and effects of surface defects and quality of polish V.525
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-89252-560-6:￥159.67 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Measurement and effects of surface defects and quality of polish V.525/.by SPIE |
| 出版发行项： | Los Angeles:,SPIE:,1985.1 |
| 载体形态项： | 198页:;+16开 |
| 一般附注： | Los Angeles technical symposium |
| 题名主题： | GLASS DEFECT |
| 题名主题： | OPTICAL TEST |
| 题名主题： | OPTICAL SYSTEMS |
| 题名主题： | SCANNING ELECTRON MICROSCOPES |
| 记录来源： | CN 20061127 |