书目详细信息
： Characterization of crystal growth defects by x-ray menthods
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-306-40628-4:RMB140.40 |
|---|---|
| 作品语种： | eng |
| 题名责任者项： | Characterization of crystal growth defects by x-ray menthods/.Tanner B.K.,Bowen D.K.著 |
| 出版发行项： | New York:,Plenum Press:,1980 |
| 载体形态项： | 589p:;+26cm |
| 个人名称等同： | Tanner B.K. 著 |
| 个人名称等同： | Bowen D.K. 著 |
| 记录来源： | CN 20081211 |