书目详细信息
： Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology V V.2141
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-1436-0:￥811.78 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology V V.2141/.SPIE |
| 出版发行项： | Los Angeles:,SPIE:,1994.1 |
| 载体形态项： | 220页 |
| 一般附注： | SPIE‘s OE/Lase 94 symposium on optoelectronic physics and devices |
| 个人名称等同： | SPIE |