书目详细信息
： Testing,reliability,and applications of optoelectronic devices V.4285
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-3963-0:858.00元 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN |
| 题名责任者项： | Testing,reliability,and applications of optoelectronic devices V.4285/.SPIE |
| 出版发行项： | Bellingham:,SPIE:,2001.1 |
| 载体形态项： | 246页:;+16开 |
| 丛编项： | Proceedings of SPIE V.4285 |
| 记录来源： | CN 20010901 |