书目详细信息
： Three-dimensional and unconventional imaging for industrial inspection and metrology V.2599
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-1963-X:￥196.00 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Three-dimensional and unconventional imaging for industrial inspection and metrology V.2599/.SPIE |
| 出版发行项： | Philadelphia:,SPIE:,1995.10 |
| 载体形态项： | 420页 |
| 一般附注： | SPIE‘s international symposium ( Photonics east‘95 ) |
| 个人名称等同： | SPIE |