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书目详细信息： 半导体测试技术

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《半导体测试技术》

ISBN/价格：	7-:￥4.85
题名责任者项：	半导体测试技术/.孙以材编著
版本项：	1
出版发行项：	北京:,冶金工业出版社:,1984.10
载体形态项：	499页:;+16开
个人名称等同：	孙以材编著
记录来源：	/ /

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