图书馆

书目详细信息： Microsystems engineering:metrology and inspection III V.5145

ISBN/价格：	0-8194-5015-4:RMB665.00
作品语种：	eng
出版国别：	US
题名责任者项：	Microsystems engineering:metrology and inspection III V.5145/.by SPIE
出版发行项：	Bellingham:,SPIE:,2003.6
载体形态项：	210p:;+fig.:;+28cm
记录来源：	CN 20040227

总体评分：（共0人）

我的评分：

收藏加入课程