书目详细信息
： Reliability,packaging,testing,and characterization of MEMS/MOEMS and nanodevices IX Vol.7592
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-0-8194-7988-4:RMB450 |
|---|---|
| 作品语种： | eng |
| 题名责任者项： | Reliability,packaging,testing,and characterization of MEMS/MOEMS and nanodevices IX Vol.7592/.by SPIE |
| 出版发行项： | Bellingham:,SPIE:,2010.1 |
| 载体形态项： | multi-stage:;+ill.:;+29cm |
| 记录来源： | CN 20101119 |