书目详细信息
： 分析晶体缺陷的电子显微术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-:￥0.46 |
|---|---|
| 题名责任者项： | 分析晶体缺陷的电子显微术/.[美]M.H.洛雷托,R.E.斯莫尔曼著;康振川等译 |
| 版本项： | 1 |
| 出版发行项： | 上海:,上海科学技术出版社:,1979.11 |
| 载体形态项： | 111页:;+32开 |
| 题名主题： | 晶体缺陷 |
| 题名主题： | 电子显微术 |
| 个人名称等同： | [美]M.H.洛雷托,R.E.斯莫尔曼著;康振川等译 |
| 记录来源： | / / |