书目详细信息
： Interferometry: surface characterization and testing V.1776
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-0949-9:￥420.14 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Interferometry: surface characterization and testing V.1776/.SPIE |
| 出版发行项： | San Diego:,SPIE:,1992.7 |
| 载体形态项： | 184页 |
| 一般附注： | SPIE‘s annual international symposium on optical applied science and engineering |
| 个人名称等同： | SPIE |