书目详细信息
： Flatness,roughness,and discrete defects characterization for computer disds,wavers,and flat panel d.
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-2714-4:65.00元 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN |
| 题名责任者项： | Flatness,roughness,and discrete defects characterization for computer disds,wavers,and flat panel desplays II V.3275/.SPIE |
| 出版发行项： | Bellingham:,SPIE:,1998 |
| 载体形态项： | 186页:;+16开 |
| 记录来源： | CN 20010719 |