书目详细信息
： Microelectronic yield,reliability,and advanced packaging V.4229
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-3901-0:825.00元 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN |
| 题名责任者项： | Microelectronic yield,reliability,and advanced packaging V.4229/.SPIE |
| 出版发行项： | Bellingham:,SPIE:,2000.11 |
| 载体形态项： | 222页:;+16开 |
| 一般附注： | Proceedings of SPIE v.4229 |
| 记录来源： | CN 20010606 |