书目详细信息
： Microelectronic manufacturing yield, reliability, and failure analysis II V.2874
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-2272-X:￥120.00 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Microelectronic manufacturing yield, reliability, and failure analysis II V.2874/.SPIE |
| 出版发行项： | Austin, Texas:,SPIE:,1996.10 |
| 载体形态项： | 372页 |
| 一般附注： | SPIE‘s microelectronic manufacturing |
| 个人名称等同： | SPIE |