书目详细信息
： Microelectronic Manufacturing yield, reliability, and failure analysis V.2635
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-2001-8:￥135.00 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Microelectronic Manufacturing yield, reliability, and failure analysis V.2635/.SPIE |
| 出版发行项： | Austin:,SPIE:,1995.10 |
| 载体形态项： | 284页 |
| 一般附注： | Microelectronic manufacturing |
| 个人名称等同： | SPIE |