ISBN/价格: | 0-8194-4451-0:665.00元 |
---|---|
作品语种: | eng |
出版国别: | USA |
题名责任者项: | Nondestructive evaluation and reliability of micro-and nanomaterial systems V.4703/.By SPIE |
出版发行项: | Bellingham:,SPIE:,2002.3 |
载体形态项: | 228页:;+16开 |
丛编项: | Proceedings of SPIE V.4703 |
记录来源: | CN 20021104 |