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书目详细信息： 红外晶体双折射测试设备测控系统研究

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《红外晶体双折射测试设备测控系统研究》

ISBN/价格：	50.00元
作品语种：	chi
出版国别：	CN 220100
题名责任者项：	红外晶体双折射测试设备测控系统研究/.何淼著
出版发行项：	长春:,长春光机与物理研究所:,2011.10
载体形态项：	75页:;+图:;+29cm
个人名称等同：	何淼著
记录来源：	CN 20120613

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