书目详细信息
： Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor Devices V.794
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-89252-829-X:￥233.01 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor Devices V.794/.by SPIE |
| 出版发行项： | Bay Point:,SPIE:,1987.3 |
| 载体形态项： | 282页:;+16开 |
| 一般附注： | Semiconductors symposium on advances in semiconductors and semiconductors structures |
| 个人名称等同： | SPIE |