书目详细信息
： Surface characterization and testing II V.1164
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-0200-1:￥366.54 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Surface characterization and testing II V.1164/.by SPIE |
| 出版发行项： | San Diego:,SPIE:,1989.8 |
| 载体形态项： | 271页:;+16开 |
| 一般附注： | SPIE‘s annual international technical symposium on interferometry, microscopy, and testing |
| 记录来源： | CN 20061204 |