书目详细信息
： 出国参观考察报告 国际计量联合会力与质量计量第七届会议概况等考察报告
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-:￥1.30 |
|---|---|
| 题名责任者项： | 出国参观考察报告 国际计量联合会力与质量计量第七届会议概况等考察报告/.蔡正平, 施昌彦编著 |
| 版本项： | 1 |
| 出版发行项： | 北京:,科学技术文献出版社:,1979.12 |
| 载体形态项： | 141页:;+16开 |
| 题名主题： | 出国考察报告 |
| 题名主题： | 质量计量会议概况 |
| 题名主题： | 传感器技术 |
| 个人名称等同： | 蔡正平, 施昌彦编著 |
| 记录来源： | / / |