图书馆

书目详细信息： Reliability,testing,and characterization of MEMS/MOEMS III V.5343

ISBN/价格：	0-8194-5251-3:RMB760.00
作品语种：	eng
题名责任者项：	Reliability,testing,and characterization of MEMS/MOEMS III V.5343/.by SPIE
出版发行项：	Bellingham:,SPIE:,2004.1
载体形态项：	312p:;+ill.:;+26cm
记录来源：	CN 20040824

总体评分：（共0人）

我的评分：

收藏加入课程