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书目详细信息： 半导体器件及电路的可靠性与退化

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《半导体器件及电路的可靠性与退化》

ISBN/价格：	7-03-001164-3:￥16.40
题名责任者项：	半导体器件及电路的可靠性与退化/.[美]M.J.豪斯,D.V.摩根主编;李锦林等译
版本项：	1
出版发行项：	北京:,科学出版社:,1989.10
载体形态项：	463页:;+32开
个人名称等同：	[美]M.J.豪斯,D.V.摩根主编;李锦林等译
记录来源：	/ /

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