| ISBN/价格: | 0-8194-2872-8:¥60.00 |
|---|---|
| 题名责任者项: | Advances in optical beam characterization and measurements V.3418/.SPIE |
| 版本项: | 1 |
| 出版发行项: | Bellingham:,SPIE:,1998.7 |
| 载体形态项: | 128页:;+16开 |
| 丛编项: | Proceedings of SPIE V.3418 |
| 丛编项: | Proceedings of SPIE V.3418 |
| 一般附注: | 光束特征与测量技术进展 |
| 个人名称等同: | SPIE |