书目详细信息
： Surface measurement and characterization V.1009
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-0044-0:￥263.13 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Surface measurement and characterization V.1009/.by SPIE |
| 出版发行项： | Hamburg:,SPIE:,1988.9 |
| 载体形态项： | 308页:;+16开 |
| 一般附注： | The international congress on optical science and engineering |
| 题名主题： | SURFACE LAYER EXAMINATION |
| 题名主题： | LIGHT SCATTERING |
| 题名主题： | SURFACE ROUGHNESS |
| 题名主题： | OPTICAL INTERFEROMETER |
| 记录来源： | CN 20061201 |