图书馆

登录

书目详细信息： 半导体器件失效分析

书目信息  机读格式(MARC)

《半导体器件失效分析》

ISBN/价格：	7-80034-363-4:￥8.10
题名责任者项：	半导体器件失效分析/.邓永孝著
版本项：	1
出版发行项：	北京:,宇航出版社:,1991.4
载体形态项：	297页:;+32开
个人名称等同：	邓永孝著
记录来源：	/ /

总体评分：（共0人）

我的评分：

收藏加入课程

相关资源

馆藏信息  附件信息  评论信息  相关借阅  借阅趋势  参考书目

借阅关系图

相关资源

二维码

《半导体器件失效分析》二维码