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书目详细信息： Proceedings of the 1988 IEEE international conference on microelectronics test structure

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《Proceedings of the 1988 IEEE international conference on microelectronics test structure》

ISBN/价格：	RMB13.8
题名责任者项：	Proceedings of the 1988 IEEE international conference on microelectronics test structure/.IEEE
出版发行项：	1988
记录来源：	CN 20070810

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