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书目详细信息： 技术交流资料汇编半导体器件可靠性

ISBN/价格：	7-:￥1.00
题名责任者项：	技术交流资料汇编半导体器件可靠性/.第十四研究院第二次半导体器件可靠性和质量控制会议
版本项：	1
出版发行项：	第十四研究院:,1976
载体形态项：	193页:;+16开
个人名称等同：	第十四研究院第二次半导体器件可靠性和质量控制会议
记录来源：	/ /

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