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书目详细信息： 计量与测试专利文摘 (上册)

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《计量与测试专利文摘 (上册)》

ISBN/价格：	7-:￥2.95
题名责任者项：	计量与测试专利文摘 (上册)/.上海科学技术情报研究所编
版本项：	1
出版发行项：	上海:,上海科学技术文献出版社:,1984.5
载体形态项：	281页:;+16开
题名主题：	专利文献
题名主题：	计量专利文献
题名主题：	测试专利文献
个人名称等同：	上海科学技术情报研究所编
记录来源：	/ /

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