书目详细信息
： 聚合物表面分析: X射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(SSIMS)
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-5025-3397-4:RMB19 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 聚合物表面分析: X射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(SSIMS)/.(英)Briggs,D.著/.曹立礼,邓宗武译 |
| 出版发行项： | 北京:,化学工业出版社:,2001.11 |
| 载体形态项： | 197页:;+32开 |
| 个人名称等同： | (英)Briggs,D. 著 |
| 个人名称次要： | 曹立礼 译 |
| 个人名称次要： | 邓宗武 译 |
| 记录来源： | CN 20021220 |