书目详细信息
： Advanced characterization techniques for optics,semiconductors,and nanotechnologies II V.58.
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-5883-X:RMB410 |
|---|---|
| 作品语种： | eng |
| 题名责任者项： | Advanced characterization techniques for optics,semiconductors,and nanotechnologies II V.5878/.by SPIE |
| 出版发行项： | Bellingham:,SPIE:,2005.8 |
| 载体形态项： | multi-stage:;+ill.:;+29cm |
| 记录来源： | CN 20060112 |