书目详细信息
： Metrology,inspection,and process control for microlithography XVIII V.5375(part2-2)
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-5288-2:RMB0.00 |
|---|---|
| 作品语种： | eng |
| 题名责任者项： | Metrology,inspection,and process control for microlithography XVIII V.5375(part2-2)/.by SPIE |
| 出版发行项： | Bellingham:,SPIE:,2004.2 |
| 载体形态项： | 721-1398p:;+ill.:;+29cm |
| 记录来源： | CN 20050110 |