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书目详细信息： 星载成像光谱仪电子学系统可靠性分析

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《星载成像光谱仪电子学系统可靠性分析》

ISBN/价格：	50.00元
作品语种：	chi
出版国别：	CN 220100
题名责任者项：	星载成像光谱仪电子学系统可靠性分析/.邓超著
出版发行项：	长春:,长春光机与物理研究所:,2008.1
载体形态项：	57页:;+图:;+29cm
个人名称等同：	邓超著
记录来源：	CN 20080509

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