书目详细信息
： Three-dimensional imaging,optical metrology,and inspection IV V.3520
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 0-8194-2981-3:￥130.00 |
|---|---|
| 题名责任者项： | Three-dimensional imaging,optical metrology,and inspection IV V.3520/.SPIE |
| 版本项： | 1 |
| 出版发行项： | Bellingham:,SPIE:,1998.11 |
| 载体形态项： | 304页:;+16开 |
| 丛编项： | Proceedings of SPIE V.3520 |
| 丛编项： | Proceedings of SPIE V.3520 |
| 一般附注： | 三维成像、光学计量及检验 (IV) |
| 个人名称等同： | SPIE |