图书馆

书目详细信息： Advances in metrology for X-ray and EUV optics IV Vol.8501

ISBN/价格：	978-0-8194-9218-0:RMB251.4
作品语种：	eng
题名责任者项：	Advances in metrology for X-ray and EUV optics IV Vol.8501/.by SPIE
出版发行项：	Bellingham:,SPIE:,2012.8
载体形态项：	multi-stage:;+ill.:;+29cm
记录来源：	CN 20130603

总体评分：（共0人）

我的评分：

收藏加入课程